FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210 菲希爾X射線鍍層測(cè)厚儀是一款專為高精度、非破壞性鍍層厚度測(cè)量和材料成分分析而設(shè)計(jì)的臺(tái)式儀器，其典型應(yīng)用領(lǐng)域和設(shè)計(jì)理念如下：

一、典型應(yīng)用領(lǐng)域

大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件測(cè)量

適用于汽車(chē)、五金、衛(wèi)浴等行業(yè)中大批量電鍍零件的質(zhì)量控制，如鋅、鎳、鉻等多層鍍層的厚度檢測(cè)。

薄鍍層的精確測(cè)量

特別適合測(cè)量裝飾性鍍層（如裝飾鉻、金、銀等），即使鍍層厚度僅為幾納米也能實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。

電子與半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層分析

可用于測(cè)量PCB（印刷線路板）上的銅、錫、金、鈀等關(guān)鍵功能性鍍層，確保電氣性能和可靠性。

全自動(dòng)測(cè)量任務(wù)

配合馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的X-Y平臺(tái)和激光定位系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)印刷線路板等復(fù)雜樣品的自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量，提升效率與重復(fù)性。

電鍍?nèi)芤撼煞址治觯ㄩg接應(yīng)用）

雖然XDL-210主要用于固體樣品，但通過(guò)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣品或沉積層，可間接評(píng)估電鍍液中金屬離子濃度的變化趨勢(shì)，輔助工藝控制。