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泰勒霍普森、粗糙度儀、SURTRONIC DUO
技術(shù)參數(shù)(DUO II 規(guī)格)
測(cè)量原理:壓電傳感器,金剛石觸針
觸針:5μm 半徑,90° 錐角;測(cè)力 10mN(1gf)
行程:5 mm;掃描速度:2 mm/s
截止波長(zhǎng)(Cut-off):0.8mm(高斯濾波,ISO 4287 標(biāo)準(zhǔn))
測(cè)量范圍
Ra:0 ~ 40 μm
Rz/Rt/Rp/Rv:0 ~ 199.9 μm
分辨率:0.01 μm
示值誤差:±(5% 讀數(shù) + 0.1 μm)
輸出參數(shù):Ra、Rq、Rz、Rt、Rp、Rv、Rsk、Rku、Rz1max(ISO4287)
單位切換:μm / μin
供電:鋰電池,單次充滿≥2000 次測(cè)量;Mini USB 充電
標(biāo)準(zhǔn)配置:主機(jī)、校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊 RCG-H10、充電線、便攜包
四、通訊與數(shù)據(jù)
藍(lán)牙(無(wú)線分體通信)
USB 接口:充電、連接電腦導(dǎo)出測(cè)量數(shù)據(jù)
可存儲(chǔ)多組測(cè)量記錄,屏幕回看輪廓圖形
