菲希爾代理X射線鍍層測厚儀XDAL237

菲希爾X射線測厚儀XDAL237核心定位

自上而下照射、電動 XY 自動化平臺機型

面向超薄多層鍍層無損檢測 + 元素成分分析；

標配硅 PIN 半導體探測器（對比 XDLM237 比例計數器，能量分辨率大幅提升，適合薄層、相鄰元素區(qū)分）；

237 = 可編程電動 XY 工作臺版本（同系列 231 為手動臺）。

區(qū)分要點：

XULM 系列：自下而上照射、手動工作臺，緊湊型，側重經濟型微小樣品

XDAL 系列：自上而下測量，支持大板 C 型槽進出，可選電動平臺，自動化、超薄鍍層優(yōu)先

關鍵硬件參數

X 射線源

鎢靶微聚焦管 50kV / 50W；

4 檔自動切換準直器（最小光斑 φ0.15 mm）；

3 檔自動初級濾片（Al / Ni / 無濾片）。

探測器配置（兩大可選）

標準：帕爾貼制冷硅 PIN 探測器，能量分辨率≤200eV，檢測元素 S (16)～U (92)

升級選配：SDD 硅漂移探測器，≤160eV，元素 Al (13)～U (92)，可兼顧 RoHS 有害物質篩查