菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240核心功能特點

微聚焦精準(zhǔn)測量：微聚焦 X 射線管配合電動切換準(zhǔn)直器，可精準(zhǔn)測量0.1mm 微小區(qū)域，特別適合半導(dǎo)體芯片金線鍍層、精密傳感器電極、連接器觸點等微型結(jié)構(gòu)

高計數(shù)率與快速檢測：比例計數(shù)器實現(xiàn)數(shù)千 cps（每秒計數(shù)率）的高計數(shù)率，大幅縮短測量周期，提高檢測效率

靈活的測量模式：

支持單金屬鍍層、合金鍍層、雙鍍層（含合金層） 厚度測量

基本參數(shù)法無需標(biāo)準(zhǔn)樣品即可分析固體 / 液體樣品及鍍層系統(tǒng)

從下至上的射線方向，便于測量不規(guī)則形狀工件

模塊化設(shè)計：可更換濾片和準(zhǔn)直器，適配不同測量任務(wù)，降低總體擁有成本

安全防護(hù)：通過認(rèn)證的全防護(hù)裝置，確保操作安全Helmut Fischer

直觀操作：WinFTM® 軟件提供友好界面，支持?jǐn)?shù)據(jù)管理、報告生成和統(tǒng)計分析