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菲希爾FISCHER X射線XULM240，基于 X 射線熒光光譜技術(shù)，X 射線激發(fā)樣品鍍層產(chǎn)生特征熒光，通過檢測熒光強(qiáng)度結(jié)合基本參數(shù)法（FP 法） 計(jì)算鍍層厚度 / 元素成分；全程無損、無需破壞樣品。主打微聚焦測量，特別適合電子接插件、PCB、珠寶鐘表、精密電鍍件等微小結(jié)構(gòu)的檢測。

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菲希爾XDLM237 X射線鍍層測厚儀，微聚焦全自動 X 射線熒光鍍層測厚儀（EDXRF），XDLM 系列頂配自動化機(jī)型，M 代表Microfocus 微聚焦光管，主打微小觸點(diǎn)、連接器、PCB 精細(xì)鍍層無損測厚 + 合金成分分析，支持大批量全自動掃描檢測，測量光束從上往下垂直照射，適配異形、凸起、腔體零件

菲希爾涂層非接觸X射線測厚儀 菲希爾涂層非接觸 X 射線測厚儀基于 X 射線與物質(zhì)的相互作用原理。當(dāng) X 射線照射到被測物體表面時，一部分 X 射線會被涂層吸收和散射，另一部分則會穿透涂層到達(dá)基體。通過測量穿透涂層的 X 射線強(qiáng)度，并與已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行對比，就可以精確計(jì)算出涂層的厚度。

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230測厚儀，菲希爾XDL230 是德國Helmut Fischer集團(tuán)旗下的一款能量色散型X射線熒光（ED-XRF）鍍層測厚及材料分析儀，型號為FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500是德國菲希爾公司 (Helmut Fischer GmbH) 研發(fā)的旗艦級便攜式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀，專為涂層厚度精確測量和材料成分分析設(shè)計(jì)，被譽(yù)為 “市場上精確的手持式 XRF 分析儀“。

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